長霉試驗箱的技術(shù)條件

本公司技術(shù)部按照《GB10588—89；長霉試驗箱的技術(shù)條件》及其它相關(guān)環(huán)試標(biāo)準(zhǔn)中的要求（例如：試驗方法中規(guī)定的有關(guān)試驗箱必

備的技術(shù)條件等），結(jié)合自身的技術(shù)特點、設(shè)計制造的夾套式“交變霉菌試驗箱”符合上述標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，達(dá)到國標(biāo)及國標(biāo)的要求，能夠按

照《電工電子產(chǎn)品方法：GB2423.16—90試驗J—長霉試驗方法》和《GJB150.10—86，用設(shè)備霉菌試驗》、《GJB4.10-83艦船電子設(shè)

備環(huán)境試驗霉菌試驗》進(jìn)行長霉試驗。
   長霉試驗通常限于檢驗是否用了適當(dāng)?shù)脑筒牧稀Ｍㄟ^材料元件、零部件或小的組合件等試驗，很容易正確地獲得所需要的許多重

要數(shù)據(jù)；長霉試驗是對試驗新產(chǎn)品準(zhǔn)備運(yùn)行非常有利霉菌生長條件下所作的zui后檢測。通過試驗可以檢測出具有良好設(shè)計性能的產(chǎn)品發(fā)

生任何故障的性質(zhì)。
    綜上所述，長霉（霉菌）試驗是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長的氣候條件下的長霉程度和由于長霉引起的表面變化和性能影響

。
    交變霉菌試驗箱是讓試驗樣品在一個理想的，適宜霉菌孢子快速生長的氣候環(huán)境中，人為考核試驗樣品及其結(jié)構(gòu)材料的抗霉性能，及

長霉對試驗樣品電氣、機(jī)械性能影響的試驗設(shè)備。